针对高速PAM4 SERDES开发与硅前前期验证需求，Wild River Technology推出ISI - 224损耗平台，全面支持高达112 Gbaud（即224G PAM4）的测试规格，是EDA开发流程中不可或缺的利器！不同于传统模拟器件，ISI - 224采用实体结构产生真实ISI损耗（物理介电损耗、趋肤效应损耗和导体损耗），确保测试信号退化一致、稳定、可预测。
产品亮点：
可调插入损耗：56GHz频段下 –8dB至 –28dB，每步1dB极低回波损耗（Return loss），最高支持至112GHz采用Spread - weave材料，有效降低群延迟噪声可选配：低偏斜同轴线材（于70GHz时，≤350 ps）选配：于70GHz仅有375 fs偏移的高频线材组合这是一款完全为高速SERDES验证而设计的实体测试平台，特别适合：