随着高速数字接口持续朝向更高数据速率、更多通道与更复杂的讯号架构发展，工程师面临的挑战已不再只是「单一通道能跑多快」，而是如何同时掌握多个高速讯号之间的时序、电压与讯号完整性表现。传统BERT多着重于少数高速通道的测试，但面对内存与新一代高速数字接口的多通道架构，逐一测试不仅耗费时间，也难以重现多个讯号同时运作时的真实状态。

为此，Introspect Technology推出M系列High-Speed Digital Tester – Parallel BERT，将传统BERT的测试概念进一步延伸至大量平行高速测试，通道数可从24通道开始，依测试需求扩充至最高256通道，为下一代高速数字接口提供更具扩充性的验证平台。

从少数通道，走向大量平行BERT

M系列Parallel BERT的核心不只是增加通道数，而是让工程师能够同时产生、接收、控制与分析大量高速讯号。以M5502为例，单一系统提供24个可同时运作的双向高速数字通道，每个通道皆具备测试图样产生与错误侦测能力，最高支持28.3 Gbps NRZ数据传输速率。透过标准SMPM前面板连接接口，工程师可直接以高速同轴线缆连接待测装置，建立熟悉的桌上型BERT测试环境，同时将测试能力扩展至多个高速通道。更重要的是，Parallel BERT 架构可依实际应用所需的通道数进行扩充，从24通道一路延伸至最高256通道，让测试平台能因应不同规模的高速数字接口与组件验证需求。

这样的平行架构可应用于：

图1:Parallel BERT configuration using standard SMPM cable connections for bidirectional high-speed I/O

每一个通道，都是完整可控制的BERT

大量通道并不代表牺牲单一通道的控制能力。M系列方案的每个高速通道皆可独立设定传送与接收相位，并控制输出电压摆幅及电压偏移，让工程师能针对不同通道建立所需的测试条件。系统亦支持接收端电压控制，可执行眼图与灵敏度测试，并提供传送端上升时间调整与Pre-emphasis功能，用于评估不同讯号条件下的接收端容限。

这使M系列方案不只是「更多通道的 BERT」，而是一套能够同时控制、量测与分析多个高速讯号的平行测试平台。

图2: Pattern Generator Eye Performance at 17.8 Gbps

BERT与讯号完整性量测整合于单一平台

除了测试图样产生与错误侦测，M系列方案也整合讯号完整性量测能力，可进行：电压/时序/抖动/噪声等关键参数的分析。工程师不需针对每一项量测重新建立不同的测试架构，即可进一步执行电压容限、时序容限、眼图及讯号质量分析，加速高速界面的验证与问题排查。

M系列结合了BERT、ATE与系统级测试平台的特性，在保留桌上型量测设备精度与操作弹性的同时，加入大量平行通道及自动化测试能力，依照所需的测试规模，最低从24个高速通道开始，最高可扩充至256个通道。搭配Pinetree™软件环境，工程师可透过单一操作接口设定测试程序、控制仪器、执行自动化测试并检视量测结果，整合测试图样产生、接收分析与讯号完整性量测。依照所需的测试规模，让大量平行BERT能力进一步延伸至不同规模的高速数字接口测试需求。

图3: DUT Tx Measurement at 6.4 Gbps

为下一代高速接口带来真正的平行验证能力

当高速数字接口从单一高速链路走向更多讯号、更复杂的双向传输与多通道同步运作，BERT的价值也不应只停留在单一通道的误码率测试。Parallel BERT的核心，在于让工程师能同时产生、接收、控制与分析大量高速讯号，更贴近待测装置实际运作的状态。

LPDDR6正是一个典型案例，LPDDR6的高速、低电压单端讯号、双向数据传输、源同步频率与短突发特性，使传统BERT面临新的测试挑战，而接口训练更需要同时连接命令与数据总线，因此大量平行BERT通道成为完整测试的重要条件。但Parallel BERT的价值并不限于LPDDR6。

对于任何需要大量高速通道同步验证、接收端容限分析、发射端特性分析与多通道除错的应用，M系列方案都提供了一种不同于传统BERT的测试方式。

M系列Parallel BERT主要特色

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