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Display Week 2026 免焊接即插即测Introspect eDP Fixture展现高速除错新标杆
在今年的Display Week 2026展会中,Introspect Technology展示了多项最新的高速接口测试与除错解决方案,涵盖MIPI、DisplayPort以及eDP 等次世代显示应用,吸引了许多来自显示器、笔电、AR/VR 与半导体产业的工程师与客户前来交流。其中,现场最受瞩目的demo之一,便是Introspect最新的eDP除错方案。
在实际的eDP除错情境中,工程师往往需要在主板以及显示器中间的FPC端点上透过焊接的方式进行讯号撷取,才能让示波器或协议分析仪进行eDP接口的讯号量测与协议分析。然而,现实中却经常因为传统interposer或讯号撷取焊点架构造成额外的负载、讯号衰减,甚至影响原始的讯号质量,导致:
• 无法成功量测高速eDP 8.1G的讯号
• 示波器眼图质量严重劣化
• Protocol Analyzer捕捉到错误封包
• 除错时间大幅增加
尤其随着高分辨率、高刷新率与高速eDP应用日益普及,如何在「不影响原始讯号质量」的前提下完成量测与协议分析,已成为许多工程师面临的重要挑战。透过Introspect的eDP解决方案搭配Remote Sampling Head(RSH),工程师仅需要将原始的40-pin FPC直接连接至Introspect eDP治具,即可快速且稳定地撷取eDP接口上的封包,进行:
✔ eDP Protocol Decode
✔ Link Training Analysis
✔ AUX Channel Debug
✔ High-Speed Signal Measurement
✔ System-Level Debug & Validation
更重要的是,整个量测过程无需繁琐焊接,也能有效降低对原始讯号质量的影响,大幅提升除错效率与量测可靠性。如果您也正在面临eDP高速讯号量测、协议分析或系统除错上的挑战,欢迎透过以下影片,亲自体验Introspect eDP 解决方案的魅力与实际应用的方便性!
影片连结 :
eDP & D-PHY RSH brief demo at Display Week 2026
延伸阅读 :
Introspect Remote Sampling Head,撷取DDR5讯号与协议解析
MIPI新世代:从AI影像到XR的测试挑战
Display Port测试时,如何跳过建链过程呢?
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